參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.尺寸公差：線性尺寸偏差0.005mm至0.1mm（依據(jù)精度等級(jí)）
2.形狀公差：平面度≤0.02mm/m，圓柱度≤Φ0.05mm
3.位置公差：同軸度≤Φ0.03mm，對(duì)稱度≤0.05mm
4.表面粗糙度：Ra值范圍0.1μm至3.2μm（按加工工藝分級(jí)）
5.輪廓度誤差：自由曲面偏差0.05mm至0.5mm

檢測(cè)范圍

1.金屬零部件：汽車發(fā)動(dòng)機(jī)缸體/航空渦輪葉片/模具型腔
2.塑料制品：醫(yī)療器械外殼/光學(xué)透鏡支架/密封件
3.復(fù)合材料結(jié)構(gòu)件：風(fēng)電葉片曲面/碳纖維航空框架
4.電子元件：PCB板焊盤定位/芯片封裝基座
5.光學(xué)器件：非球面透鏡曲率/棱鏡角度偏差

檢測(cè)方法

1.ASTME177-14：幾何尺寸與公差（GD&T）測(cè)量不確定度評(píng)定
2.ISO1101:2017：幾何產(chǎn)品規(guī)范（GPS）形位公差標(biāo)注規(guī)范
3.GB/T1182-2018：產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范（GPS）圖樣標(biāo)注規(guī)則
4.ISO4287:1997：表面粗糙度參數(shù)定義與測(cè)量程序
5.GB/T1958-2017：產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范（GPS）形狀和位置公差檢測(cè)規(guī)定

檢測(cè)設(shè)備

1.HexagonGlobalClassic07.10.07三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)：空間尺寸測(cè)量精度(1.9+3L/1000)μm
2.MitutoyoCRYSTA-ApexS574：接觸式輪廓儀（Ra分辨率0.01μm）
3.ZygoNewView9000白光干涉儀：非接觸式表面粗糙度測(cè)量（垂直分辨率0.1nm）
4.TaylorHobsonTalyrond585LT圓度儀：徑向跳動(dòng)測(cè)量精度0.025μm
5.FAROQuantumS臂測(cè)量機(jī)：大尺寸工件動(dòng)態(tài)測(cè)量（最大臂長(zhǎng)3m）
6.KeyenceVR-5000三維掃描儀：高速面掃描（單幀采集時(shí)間0.3秒）
7.ZeissO-INSPECT322復(fù)合式測(cè)量機(jī)：光學(xué)與接觸式復(fù)合測(cè)量系統(tǒng)
8.RenishawXL-80激光干涉儀：線性定位精度校準(zhǔn)（分辨率1nm）
9]AliconaInfiniteFocusG5微納三維測(cè)量?jī)x：200倍光學(xué)變焦（Z軸分辨率10nm）
10]NikonNEXIVVMZ-S3020影像測(cè)量?jī)x：二維尺寸快速測(cè)量（重復(fù)精度1μm）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)